A.可變角的探頭
B.直探頭
C.斜探頭
D.收/發(fā)聯(lián)合雙晶探頭
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A.50%
B.90%
C.0
D.1%
A.聲阻抗相差大
B.聲阻抗相差小
C.衰減小
D.聲速相差小
A.線狀?yuàn)A渣
B.與探測(cè)面垂直的大而平的缺陷
C.密集氣孔
D.未焊透
A.在整個(gè)探測(cè)表面上保持水距一致
B.保證最大水距
C.保證聲束的入射角橫定為15º
D.保證聲束對(duì)探測(cè)面的角度為5º
A.導(dǎo)致熒光屏圖像中失去底面回波
B.難以對(duì)平行于入射面的缺陷進(jìn)行定位
C.通常表示在金屬中存在疏松狀態(tài)
D.減小試驗(yàn)的穿透力
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
（）是影響缺陷定量的因素。