A.底面回波
B.底面二次回波
C.缺陷回波
D.遲到波
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A.底面回波降低或消失
B.底面回波正常
C.底面回波變寬
D.底面回波變窄
A.較低頻率的探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護膜探頭
D.以上都對
A.為了發(fā)現(xiàn)小缺陷，應選用較低的頻率
B.為區(qū)分相鄰缺陷，應選用高頻率
C.為減小材質衰減，應選擇高頻率
D.為檢測近表面缺陷，應選擇低頻率
A.縱波斜探頭主要利用小角度縱波進行檢測
B.雙晶探頭主要用于根部缺陷的精確測定
C.橫波斜探頭主要用于鋼板夾層缺陷的檢測
D.水浸探頭主要用于大批量焊縫的自動檢測
A.耦合受工件表面接觸緊密程度的影響較大
B.探頭磨損嚴重
C.可縮小檢測盲區(qū)
D.超聲波在液體和金屬表面上的能量損失小
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。