A.聲程
B.至探測面的垂直距離
C.深入探測面的深度
D.A和B
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A.主聲束掃描不到的區(qū)域
B.近場區(qū)內的距離
C.非擴散區(qū)的長度
D.被始脈沖寬度所覆蓋的距離
A.水平線性、垂直線性、衰減器精度
B.動態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度
C.垂直極限、水平極限、重復頻率
D.靈敏度余量、盲區(qū)、遠場分辨力
A.清洗器
B.聲透鏡
C.斜楔
D.延遲塊
A.愈大
B.愈小
C.不變
D.不一定
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
最新試題
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。
為了減少側壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內會產(chǎn)生強烈的聲束擴散。
水浸式探頭主要特點是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
當探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。