A.基本結(jié)構(gòu)
B.部分組成
C.電流大小
D.電壓大小
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A.電路組成
B.電子元件
C.檢查工具
D.電流大小
A.兩個(gè)或兩組線圈
B.三個(gè)或三組線圈
C.一個(gè)或一組線圈
D.四個(gè)或四組線圈
A.兩個(gè)線圈
B.多個(gè)線圈
C.單個(gè)線圈
D.三個(gè)線圈
A.渴流檢測(cè)
B.紅外線檢測(cè)
C.微波檢測(cè)
D.橫波斜檢測(cè)
A.電流
B.磁場(chǎng)
C.滿流
D.電磁
最新試題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測(cè)量黑光。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。