一般認為表面波探測的有效深度約為（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數，此式代表什么現象（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

調節(jié)掃描速度時，應使（）同時對準相應的水平刻度值。

二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯誤的（）

光電效應發(fā)生的機率隨什么變化（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

底片清晰度與增感屏顆粒度的關系是（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

影響較大的散射線通常來自（）