掃查方式一般視試件的（）而定。

當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動(dòng)探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。

對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。

渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）

用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的（）

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。

根據(jù)檢測對(duì)象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。