A.平底孔試塊對(duì)比法
B.當(dāng)量計(jì)算法
C.AVG曲線法
D.底面回波高度法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.接觸法直射縱波
B.接觸法橫波
C.水浸直射和斜射
D.接觸或水浸透射法
A.接觸法直射縱波
B.接觸法橫波
C.水浸直射和斜射
D.接觸或水浸透射法
A.使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面
B.探頭前沿與焊縫中心的距離
C.聲束中心線盡量與主要危險(xiǎn)性缺陷垂直
D.足夠的檢測(cè)靈敏度
A.鑄錠
B.成型的盤(pán)鍛件
C.餅坯
D.最終的成品件
A.100mm
B.200mm
C.400mm
D.800mm
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。