A.底面與探傷面不平行
B.工件內(nèi)部有傾斜的大缺陷
C.工件內(nèi)部有材質(zhì)衰減大的部位
D.以上都有可能
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A.調(diào)整探頭角度
B.調(diào)整水距
C.調(diào)整聲束中心線與管軸距離
D.以上都可以
A.耦合條件差
B.聲波穿透性差
C.底面反射差
D.表面分辨力差
A.發(fā)散
B.聚焦
C.折射
D.透射
A、縱波圓周掃查
B、橫波圓周掃查
C、縱波軸向掃查
D、橫波軸向掃查
A.距離—dB曲線法
B.面板曲線法
C.對(duì)比試塊法
D.以上都是
最新試題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
儀器水平線性影響()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。