A.接觸法橫波單探頭
B.水浸法聚焦探頭
C.接觸法縱波單探頭
D.水浸法平探頭
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.選擇合適的水程距離
B.選擇合適的探頭頻率
C.選擇合適的偏心距離
D.選擇合適的晶片尺寸
A.接觸法單探頭
B.水浸法聚焦探頭
C.接觸法雙探頭
D.水浸法平探頭
A.薄壁管的檢測(cè)是以周向橫波檢測(cè)為主
B.調(diào)整靈敏度的試塊應(yīng)采用內(nèi)、外壁均有人工刻槽的相同管材
C.由于曲面會(huì)引起折射角的擴(kuò)散,應(yīng)使用小晶片探頭
D.以上都對(duì)
A.不小于0.2
B.不大于0.2
C.不大于0.5
D.以上都不對(duì)
A.橫波檢測(cè)薄壁管的內(nèi)、外壁缺陷
B.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷,變形橫波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷
C.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷,反射縱波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷
D.以上都是
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。