A.與導(dǎo)線距離相等的點(diǎn)上，磁場(chǎng)強(qiáng)度大小相等，方向沿切線方向。
B.與導(dǎo)線的距離增加一倍，磁場(chǎng)強(qiáng)度降為原來(lái)的1/4。
C.流過(guò)導(dǎo)線的電流增加一倍時(shí)磁場(chǎng)強(qiáng)度增加兩倍
D.以上都不對(duì)
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A.線圈內(nèi)部中心軸上磁場(chǎng)與軸平行
B.線圈內(nèi)部中心軸上的磁場(chǎng)強(qiáng)度，以中心最強(qiáng)。
C.在線圈截面上靠近線圈壁的磁場(chǎng)大
D.在線圈截面上靠近線圈壁的磁場(chǎng)小
A.當(dāng)電流流過(guò)長(zhǎng)圓柱導(dǎo)體時(shí)，形成的磁場(chǎng)是以導(dǎo)體軸為中心的圓。
B.螺管線圈磁化時(shí)，線圈內(nèi)各處的磁場(chǎng)強(qiáng)度都一樣。
C.螺管線圈內(nèi)的磁場(chǎng)方向大體上與軸平行。
D.通電導(dǎo)體內(nèi)的磁場(chǎng)與距導(dǎo)體中心的距離成正比。
最新試題
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí)：Ⅰ級(jí)為初級(jí)，Ⅱ級(jí)為中級(jí)，Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有（）。
對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
缺陷分類(lèi)應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求，標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷，必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。
在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé)，對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定，需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí)，X光室應(yīng)予以配合。