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A.試驗(yàn)--改進(jìn)--再試驗(yàn)
B.試驗(yàn)--發(fā)現(xiàn)問(wèn)題--再試驗(yàn)
C.待延緩改進(jìn)試驗(yàn)--改進(jìn)--再試驗(yàn)
D.可靠性描述
A.便捷性
B.維修性
C.安全性
D.快速性
A.通過(guò)熱設(shè)計(jì)在滿足性能要求下盡可能減少設(shè)備內(nèi)部的熱量
B.通過(guò)熱設(shè)計(jì)設(shè)法較少熱阻
C.通過(guò)人設(shè)計(jì)能保證設(shè)備在較低溫度條件下，以便減少參數(shù)漂移，保持電性能穩(wěn)定，從而提高可靠性
D.減少設(shè)備的發(fā)熱量
A.盡可能采用優(yōu)先電路的原則#盡可能簡(jiǎn)化的原則
B.盡可能采用新研制的電路
C.盡可能選用未定型的電路
最新試題
隨著科學(xué)的發(fā)展，產(chǎn)品可靠性達(dá)到一定的程度時(shí)，就可以杜絕產(chǎn)品故障的出現(xiàn)。
在可靠性理論中，（）是最基本、最常用的分布，適用于失效率為常數(shù)的情況。
如已知產(chǎn)品的失效分布函數(shù)，則可求出（）。
對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行熱設(shè)計(jì)的要求（）
C=A∩B是（）
可靠性角度研究部件和系統(tǒng)都是兩態(tài)的。
研究產(chǎn)品失效的方法目前主要有（）。
產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí)，因?yàn)楣收系脑?，需要考慮（）。
可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)的方式有（）
在可靠性研究中，規(guī)定時(shí)間按秒來(lái)計(jì)算。