圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測(cè)方法，如果圖中探頭的位置固定，則當(dāng)沒有缺陷F時(shí)，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
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圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測(cè)波形圖，哪個(gè)描述是較為正確的（）
A.回波1為一次界面波，回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波，回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波，回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波，回波2為一次界面波
圖A是斜入射橫波檢測(cè)示意圖；如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話，斜探頭2位置處的波形圖應(yīng)是圖B中的哪個(gè)（）
A.A
B.B
C.C
D.D
當(dāng)采用直射脈沖反射法檢測(cè)時(shí)，在圖中，哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
當(dāng)采用透射法檢測(cè)時(shí)，在圖中，哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
A.使始波寬度的影響落在延遲過程中
B.提高近表面缺陷的檢出能力
C.減少聲能損失
D.測(cè)量薄件的厚度
最新試題
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。