A.表面粗糙且檢測(cè)靈敏度要求低的工件,宜采用水洗型著色法或水洗型熒光法
B.表面光潔且檢測(cè)靈敏度要求高的工件,宜采用后乳化型著色法或溶劑去除型著色法
C.大工件的局部檢測(cè),宜采用溶劑去除型著色法或溶劑去除型熒光法
D.現(xiàn)場(chǎng)無(wú)水源、無(wú)電源的檢測(cè),宜采用溶劑去除型著色法
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A.鍋爐
B.氣瓶
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A.鐵素體
B.滲碳體
C.珠光體
D.奧氏體
A.水洗型滲透劑
B.后乳化型滲透劑
C.溶劑去除型滲透劑
D.水基滲透劑
A.熒光磁粉
B.非熒光磁粉
C.濕法用磁粉
D.干法用磁粉
A.顯像劑均是溶液
B.滲透劑是溶液
C.溶劑清洗劑是懸浮液
D.顯像液是乳狀液
最新試題
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線(xiàn),穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線(xiàn)檢測(cè)的影響包括()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
對(duì)軸類(lèi)鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()