A.僅僅是表面缺陷
B.僅僅是表面下的缺陷
C.表面和表面下的缺陷
D.內(nèi)部很深的缺陷
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A.用通電法磁化
B.用線圈磁化
C.使電流通過置于工作中的導(dǎo)體
D.增加使用的安倍數(shù)
A.支桿法
B.磁軛法
C.線圈法
D.穿棒法
A.H=I/2πr2
B.H=I/2πr
C.H=Ir/2π
D.H=I/2πrR
A.以固定位置排列,方向互相抵消
B.以固定位置排列,在一個方向占優(yōu)勢
C.無規(guī)則的排列
D.與金屬晶粒結(jié)構(gòu)相同
A.北極
B.南極
C.北極和南極
D.任意
最新試題
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測量,測試時儀器抑制置“零”或“開”位,必要時可加匹配線圈。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
缺陷垂直時,擴(kuò)散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
儀器時基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當(dāng)工件與試塊的聲速不同時,儀器的時基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。