A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.水基類
B.甘油類
C.硅基類
D.堿性類
A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
A.根據(jù)探測(cè)范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊，以一次底回波設(shè)定
B.根據(jù)探測(cè)范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊，以兩次以上底
C.可以按被檢材料聲速設(shè)定，而不需要使用試塊
D.以上都可以
A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時(shí)基線；
B.利用兩次或兩次以上回波作為基準(zhǔn)回波；
C.調(diào)整時(shí)，應(yīng)同時(shí)校正零位；
D.以上都是。
A.已知厚度的大平底零件
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.對(duì)比試塊
D.以上都可以
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
單探頭法容易檢出（）。