單項選擇題為減少超聲波通過介質時的衰減和避免林狀回波，宜采用（）進行探傷。
A.高頻率、橫波
B.較低頻率、橫波
C.高頻率、縱波
D.較低頻率、縱波
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1.單項選擇題超聲波檢測中主要考慮的工藝因素是（）
A.工作頻率
B.探頭和儀器參數(shù)
C.耦合條件與狀態(tài)
D.探測面
E.以上都是
2.單項選擇題由一個探頭發(fā)射超聲波，通過試件后再由另一個探頭接收，這里檢驗模式稱為（）
A.瑞利波法
B.斜射法
C.雙探頭法
D.垂直法
3.單項選擇題由一個探頭發(fā)射超聲波，通過試件后再由另一個探頭接收，這種檢驗方法稱為（）
A.表面波法
B.斜射法
C.穿透法
D.垂直法
4.單項選擇題用一臺時基線已準確校正的超聲波儀器和斜探頭探測圓心無切的半圓試塊，第一次回波位于滿刻度為10的水平刻度3處，則圓弧面的第二次回波應出現(xiàn)在水平刻度的（）處。
A.5
B.7.5
C.8
D.9
5.單項選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺階孔，其目的是方便用于（）
A.測定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
最新試題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項選擇題
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：單項選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
關于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。
題型：單項選擇題
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
題型：單項選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。
題型：單項選擇題