A.6dB
B.相對(duì)靈敏度
C.絕對(duì)靈敏度
D.12dB
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A.掃描電路
B.增輝電路
C.發(fā)射電路
D.接收電路
A.聚焦探頭
B.直探頭
C.斜探頭
D.串列斜探頭
A.大
B.小
C.便于發(fā)現(xiàn)大的缺陷
D.任意
A.增大
B.衰減
C.不變
D.任意
A.散射
B.吸收
C.散射和吸收
D.擴(kuò)散
最新試題
對(duì)于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
儀器時(shí)基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí),儀器的時(shí)基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。
檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。