在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）是影響缺陷定量的因素。

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。