一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件A面探測的話，采用下列哪種技術最為合適（）
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
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圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測方法，如果圖中探頭的位置固定，則當沒有缺陷F時，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測波形圖，哪個描述是較為正確的（）
A.回波1為一次界面波，回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波，回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波，回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波，回波2為一次界面波
圖A是斜入射橫波檢測示意圖；如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話，斜探頭2位置處的波形圖應是圖B中的哪個（）
A.A
B.B
C.C
D.D
當采用直射脈沖反射法檢測時，在圖中，哪個是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
當采用透射法檢測時，在圖中，哪個是較典型的有缺陷的顯示（）
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
最新試題
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
儀器水平線性影響（）。
（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產品技術要求或有關標準來確定。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。