A.與界面兩側(cè)材料的聲速有關(guān)
B.與界面兩側(cè)材料的密度有關(guān)
C.與界面兩側(cè)材料的聲阻抗有關(guān)
D.與入射波的波型有關(guān)
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A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速
B.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)
D.以上全部
A.一樣
B.傳播縱波時大
C.傳播橫波時大
D.無法確定
A.介質(zhì)的彈性
B.介質(zhì)的密度
C.超聲波的波型
D.以上都是
A.CR>CL>CS
B.CS>CL>CR
C.CL>CS>CR
D.以上都可能
A.質(zhì)點的振動速度
B.質(zhì)點的振動幅度
C.質(zhì)點的振動頻率
D.彈性介質(zhì)的特性
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
()是影響缺陷定量的因素。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
儀器水平線性影響()。