A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
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A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.小于實(shí)際缺陷面積
B.等于實(shí)際缺陷面積
C.大于實(shí)際缺陷面積
D.以上說(shuō)法均不正確
A.由于實(shí)際缺陷的形狀、性質(zhì)等原因,很難確定缺陷的真實(shí)尺寸
B.當(dāng)量法適用于評(píng)定小于聲束截面尺寸的缺陷
C.缺陷回波高度法適用于評(píng)定小于聲束截面尺寸的缺陷
D.以上都正確
A.當(dāng)量法確定的缺陷尺寸能夠代表實(shí)際的缺陷尺寸
B.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定法適用于面積大于聲束截面的缺陷
C.底面回波高度法適用于面積大于聲束截面的缺陷
D.以上都正確
A.斜射縱波
B.斜射橫波
C.表面波
D.都可以
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
單探頭法容易檢出()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。