單項(xiàng)選擇題（）可以提高X射線的穿透能力。
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
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1.單項(xiàng)選擇題X射線的穿透能力主要取決于（）。
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
2.單項(xiàng)選擇題底片黑度正常而襯度不夠的原因可能是（）。
A、射線太硬
B、顯影不足
C、顯影液陳舊失效
D、以上都對(duì)
3.單項(xiàng)選擇題放射性同位素源的半衰期取決于（）。
A、源的強(qiáng)度
B、源的尺寸
C、源的使用時(shí)間
D、源的種類
4.單項(xiàng)選擇題（）指的是同位素。
A、質(zhì)量數(shù)相同，中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同，中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同，中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同，質(zhì)子數(shù)不同的元素
5.單項(xiàng)選擇題放射性同位素鈷60是將其穩(wěn)定的同位素鈷59至于核反應(yīng)堆中俘獲（）而發(fā)生核反應(yīng)制成的。
A、電子
B、中子
C、質(zhì)子
D、原子
最新試題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
各類渦流檢測(cè)儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃查方式一般視試件的（）而定。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題