單項(xiàng)選擇題下列不屬于特征X射線的別稱的是（）。
A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識X射線
D、連續(xù)X射線
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1.單項(xiàng)選擇題特征X射線又稱為（）。
A、本征X射線
B、示性X射線
C、標(biāo)識X射線
D、以上都是
2.單項(xiàng)選擇題原子的組成部分為質(zhì)子、電子和（）。
A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子
3.單項(xiàng)選擇題原子核中質(zhì)子的質(zhì)量約為（）。
A、1.6726×10-24克
B、3.167×10-27克
C、9.109×10-31克
D、5.478×10-24克
4.單項(xiàng)選擇題射線照相法是利用X、γ射線穿透工件，以（）作為記錄信息的無損檢測方法。
A、像質(zhì)計(jì)
B、膠片
C、評定尺
D、增感屏
5.單項(xiàng)選擇題脈沖超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率和（）有關(guān)。
A、報(bào)警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時基電路
最新試題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。
題型：單項(xiàng)選擇題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）
題型：單項(xiàng)選擇題
渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。
題型：單項(xiàng)選擇題
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
題型：單項(xiàng)選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接射向缺陷的波就是（）
題型：單項(xiàng)選擇題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
掃查方式一般視試件的（）而定。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
題型：單項(xiàng)選擇題
渦流檢測中的對比試樣的（）和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
題型：單項(xiàng)選擇題