渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）

對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）

渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）

用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）