A.檢驗(yàn)水平Ⅰ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力低
B.檢驗(yàn)水平Ⅰ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力高
C.檢驗(yàn)水平Ⅲ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力高
D.檢驗(yàn)水平Ⅲ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力低
E.以上說(shuō)法都不正確
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A.0.535
B.0.303
C.0.380
D.0.335
設(shè)隨機(jī)變量Z的分布列為
X:135
P:0.40.50.1
則E(X)為（）。
A.1.1
B.2.4
C.1.6
D.1.0
A.(0，a)
B.(a，b)
C.(0，b)
D.(0，0)
A.t分布的概率密度函數(shù)在整個(gè)軸上呈偏態(tài)分布
B.t分布的概率密度函數(shù)在正半軸上呈偏態(tài)分布
C.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布N(0，1)的概率密度函數(shù)的圖形大致類(lèi)似
D.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與二項(xiàng)分布b(n，p)的概率密度函數(shù)的圖形大致類(lèi)似
A.2-2Ф(4)
B.1-Ф(4)
C.2Ф(4)
D.2Ф(4)-1
最新試題
設(shè)X服從λ=2的泊松分布，則P(X≤1)約為（）。
從參數(shù)λ=0．4得指數(shù)分布中隨機(jī)抽取樣本量為25的一個(gè)樣本，則該樣本均值的標(biāo)準(zhǔn)差為（）
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布，
下面關(guān)于t分布的說(shuō)法，正確的有（）。
一元線性回歸方程一定進(jìn)過(guò)的點(diǎn)是()。
設(shè)隨機(jī)變量2服從λ＝2的泊松分布，則P(X≤2)＝（）。
一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布，每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5，則：一鑄件上僅有一個(gè)缺陷的概率為（）。
設(shè)隨機(jī)變量Z的分布列為X:135P:0.40.50.1則E(X)為（）。
設(shè)隨機(jī)變量x服從二項(xiàng)分布b(10，0.9)，則其均值與標(biāo)準(zhǔn)差分別為（）。
對(duì)檢驗(yàn)水平判別能力的高低說(shuō)法恰當(dāng)?shù)氖牵ǎ?/p>