A.相位失真
B.相移
C.相位補(bǔ)償
D.相位分析
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.矯頑力
B.磁化力
C.反電動(dòng)勢(shì)
D.剩磁
A.矯頑力
B.剩磁
C.飽和值
D.磁滯損耗
A.材料磁導(dǎo)率
B.實(shí)驗(yàn)頻率
C.物體幾何形狀
D.以上都是
A.低通濾波器
B.振蕩器
C.相位鑒別器
D.高通濾波器
A.0.5
B.0.75
C.1
D.0.25
最新試題
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過(guò)一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無(wú)需X射線檢測(cè)。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()