A.直探頭在翼板上掃查探測(cè)
B.斜探頭在翼板外側(cè)或內(nèi)側(cè)掃查探測(cè)
C.直探頭在腹板上掃查探測(cè)
D.斜探頭在腹板上掃查探測(cè)
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A.宜采用較高頻率,一般為5MHZ
B.宜采用大角度斜探頭,其中β=70°探頭較好
C.宜采用粘度大的耦合劑,如黃油
D.一般以橫波斜探頭從主管探測(cè)為主,支管探測(cè)為輔
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.反射訊號(hào)很小而導(dǎo)致漏檢
A.保持靈敏度不變
B.適當(dāng)提高靈敏度
C.增加大K值探頭探測(cè)
D.以上B和C
A.增大
B.減小
C.不變
D.以上A和B
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。