單項(xiàng)選擇題在用5MHZΦ10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，所測(cè)結(jié)果：（）

A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸


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1.單項(xiàng)選擇題采用底波高度法（F/B百分比法）對(duì)缺陷定量時(shí)，以下哪種說法正確（）

A.F/B相同，缺陷當(dāng)量相同
B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸
C.適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量
D.適于對(duì)密集性缺陷的定量

2.單項(xiàng)選擇題探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí)，如儀器用平試塊按深度1：1調(diào)掃描，下面哪種說法正確（）

A.缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值
B.顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長(zhǎng)
C.顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小
D.以上都正確

3.單項(xiàng)選擇題表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（）

A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以

4.單項(xiàng)選擇題如果在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（）

A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2的整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C

5.單項(xiàng)選擇題超聲檢驗(yàn)中，選用鏡片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（）

A.曲面探傷時(shí)可減少耦合損失
B.可減少材質(zhì)衰減損失
C.輻射聲能大且能量集中
D.以上全部