A.5.3年
B.74天
C.127天
D.以上都不是
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A.5.3年
B.3.3年
C.33年
D.75天
A.1/2
B.1/3
C.1/4
D.3/4
A.尺寸較大
B.尺寸較小
C.線質(zhì)硬
D.半衰期較短
A.中子數(shù)
B.核子數(shù)
C.原子量
D.分子數(shù)
A.電子數(shù)
B.原子數(shù)
C.中子數(shù)
D.原子核質(zhì)量數(shù)
最新試題
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是()。
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
與一次射線相比,散射線的()。
對(duì)漏磁檢測(cè)原理描述正確的有()。
超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測(cè),缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
滲透檢測(cè)時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說(shuō)法正確的有()。
關(guān)于相似相溶經(jīng)驗(yàn)法則的說(shuō)法正確的有()。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。