A.尺寸較大
B.尺寸較小
C.線質(zhì)硬
D.半衰期較短
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A.中子數(shù)
B.核子數(shù)
C.原子量
D.分子數(shù)
A.電子數(shù)
B.原子數(shù)
C.中子數(shù)
D.原子核質(zhì)量數(shù)
A.27個(gè)質(zhì)子、32個(gè)中子
B.27個(gè)質(zhì)子、33個(gè)中子
C.28個(gè)質(zhì)子、32個(gè)中子
D.28個(gè)質(zhì)子、33個(gè)中子
A.質(zhì)子、電子、中子
B.質(zhì)子、電子、γ射線
C.光子、電子、中子
D.原子、質(zhì)子、電子
A.面積大于聲束截面的當(dāng)量一定大
B.面積小于聲束截面的當(dāng)量反而大
C.當(dāng)量忽大忽小
D.以上都可能
最新試題
在氣候潮濕地區(qū)或潮濕季節(jié),儀器長(zhǎng)期不用,應(yīng)做到(),以驅(qū)除潮氣,防止儀器內(nèi)部短路或擊穿。
滲透檢測(cè)工藝對(duì)顯像操作的要求有()。
無(wú)損檢測(cè)設(shè)備、材料采購(gòu)驗(yàn)收內(nèi)容包括()驗(yàn)收。
關(guān)于波束未擴(kuò)散區(qū),說(shuō)法正確的是()。
鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí),()。
在沒(méi)有外加磁場(chǎng)作用時(shí),鐵磁性材料內(nèi)出現(xiàn)()現(xiàn)象。
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是()。
非熒光磁粉檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度不小于1000lx,并應(yīng)避免()。
用雙晶探頭檢測(cè)時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭()。