A.目視法
B.射線法
C.磁粉法
D.渦流法
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你可能感興趣的試題
A.可在光線較暗的環(huán)境下觀察缺陷
B.被探測零件表面不會被腐蝕
C.對零件和環(huán)境的污染小
D.較易檢出微小的缺陷
A.沖洗不夠
B.后乳化法時乳化時間不足
C.多孔性材料和涂層
D.以上都可能
A.預清洗
B.乳化
C.對顯示跡痕的判斷與解釋
D.滲透劑的清除
A.對于微細裂紋的顯示,厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對于微細裂紋的顯示,薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
A.測定滲透劑的粘度
B.測量滲透劑的潤濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過對比試驗確定
D.上述方法都需要
最新試題
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
在對缺陷進行定量前,必須先調節(jié)()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。