A.沖洗不夠
B.后乳化法時乳化時間不足
C.多孔性材料和涂層
D.以上都可能
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A.預清洗
B.乳化
C.對顯示跡痕的判斷與解釋
D.滲透劑的清除
A.對于微細裂紋的顯示,厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對于微細裂紋的顯示,薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
A.測定滲透劑的粘度
B.測量滲透劑的潤濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過對比試驗確定
D.上述方法都需要
A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.后乳化型著色滲透法
A.只需見到缺陷顯示,不一定非要在施加顯像劑10-15分鐘后進行跡痕解釋和評定
B.為保證著色探傷中檢查細微缺陷的需要,被檢零件的照度應不超過200Lx
C.熒光探傷時暗室中的白光強度應不超過5Lx
D.以上說法都不對
最新試題
調節(jié)時基線時,應使()同時對準相應的聲程位置。
在對缺陷進行定量前,必須先調節(jié)()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
單探頭法容易檢出()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
關于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。