A.校正不清晰度;
B.校正低密度;
C.校正對(duì)比度;
D.校正低寬容度
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你可能感興趣的試題
A.射線能量從200KeV降低到100KeV;
B.照射場(chǎng)范圍從Φ300mm增大到Φ500mm;
C.試件厚度從20mm增加到40mm;
D.焊縫余高從2mm增加到4mm。
A.為了防止暗室處理不當(dāng)而重新拍片;
B.為了防止探傷工藝選擇不當(dāng)而重新拍片;
C.為了防止膠片上的偽缺陷而重新拍片;
D.用于厚度差較大工件射線探傷,這樣在不同厚度部位都能得到黑度適當(dāng)?shù)牡灼?/p>
A.10mm;
B.20mm;
C.10mm;
D.15.4mm。
A.25%;
B.70%;
C.41%;
D.30%。
A.40分鐘;
B.2小時(shí);
C.2小時(shí)40分鐘;
D.4小時(shí)。
最新試題
X射線照相時(shí),設(shè)焦距為650mm,陽極靶與管軸線傾角為20°,則其輻射場(chǎng)直徑為()
以下不適合用超聲波檢測(cè)的缺陷是()
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()
射線照相法適宜檢測(cè)的材料是()
下列哪一項(xiàng)對(duì)射線照相有效透照范圍的影響最大()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
合格的底片應(yīng)至少滿足以下哪些質(zhì)量要求()
提高射線照相對(duì)比度,會(huì)產(chǎn)生的不利后果有()
在射線照相檢測(cè)中,當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是()
射線照相在哪些情況下遵守互易定律()