問(wèn)答題用超生波探傷時(shí),底波消失可能是什么原因造成的?
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.問(wèn)答題超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)缺點(diǎn)?
2.問(wèn)答題某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁?
3.問(wèn)答題試述產(chǎn)生漏磁的影響因素?
4.問(wèn)答題試述產(chǎn)生漏磁的原因?
5.問(wèn)答題缺陷磁痕可分為幾類?
最新試題
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
題型:判斷題
X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。
題型:判斷題
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
題型:判斷題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型:判斷題
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
題型:判斷題
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈,其阻抗變大的情況有()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
題型:判斷題
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
題型:判斷題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
題型:判斷題