單項選擇題當用雙晶直探頭在平面上掃查時,應盡可能使探頭隔聲片的放置方向與探頭掃查方向()
A、平行
B、成45°角
C、垂直
D、成60°角
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1.單項選擇題在利用實心軸上圓柱面底波按AVG方法校正探傷靈敏度時,為了保證軸的直徑不小于3.7N,通??赏ㄟ^()使之實現(xiàn)
A、減小探頭尺寸
B、加大探頭尺寸
C、降低檢測頻率
D、以上都不對
2.單項選擇題斜探頭測焊縫時,正確地調整儀器的水平或深度比例主要是為了()。
A、識別焊道回波和缺陷波
B、判定缺陷的大小
C、判定缺陷的長度
D、判斷缺陷的位置
E、達到a和d的目的
3.單項選擇題鍛件探傷中,若缺陷垂直于探測面,且缺陷稍有曲折或較粗糙時,若采用高靈敏度探傷,其反射波特征是()
A、反射波峰尖銳
B、反射波穩(wěn)定但較波幅低
C、反射波幅低,回波包絡寬度較大
4.單項選擇題已選定某一聚焦探頭對管材作水浸聚焦探傷,如果聚焦點不能調整到被檢管件的中心軸線上,而偏離中心軸線一定距離,在管壁內將出現(xiàn)()
A、盲區(qū)增大
B、無底波反射
C、多種波型傳播
5.單項選擇題超聲波探傷試塊的作用是()
A、檢驗儀器和探頭的組合性能
B、確定靈敏度
C、缺陷定位
D、缺陷定量
E、以上都是
最新試題
產品焊接接頭最終質量經X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應重新申請進行X射線檢測。
題型:判斷題
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術。
題型:判斷題
底片圖像質量參數中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型:判斷題
下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。
題型:單項選擇題
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
題型:判斷題
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
題型:判斷題
檢測申請時工序狀態(tài)應清楚、工序質量應符合工序質量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
題型:判斷題
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
題型:判斷題
X射線檢測人員健康體檢為每()年一次。
題型:單項選擇題
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數,直至缺陷完全排除。
題型:判斷題