A、工件內(nèi)有大缺陷
B、靈敏度過高
C、晶粒粗大和樹枝狀結(jié)晶
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A、連續(xù)波顯示
B、A掃描顯示
C、B掃描顯示
D、C掃描顯示
A、放大管
B、脈沖管
C、陰極射線管
D、掃描管
A、方波圖形
B、掃描線
C、標(biāo)志圖形
D、上述三種都不對
A、放大器
B、接收器
C、脈沖發(fā)生器
D、同步器
A、靈敏度范圍
B、線性范圍
C、選擇性范圍
D、分辨范圍
最新試題
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認(rèn),檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認(rèn)。
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴(yán)加控制。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()