判斷題鈾棒探傷時(shí),晶片到錠表面的距離應(yīng)使第二次界面波稍后于錠中心部位,避免與中心縮孔反射波相混淆。
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最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題