（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

靈敏度采用試塊調節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

儀器水平線性影響（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。