A.角度調(diào)整
B.散射
C.折射
D.擴(kuò)散
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A.小于第一臨界角
B.大于第二臨界角
C.大于第一臨界角并小于第二臨界角
D.上述情況都能滿(mǎn)足
A.水平定位法
B.垂直定位法
C.聲程定位法
D.以上三種都是
圖中,探頭D在進(jìn)行()
A.測(cè)定聲速
B.靈敏度測(cè)定
C.分辨力測(cè)定
D.距離校驗(yàn)
圖中,探頭C在進(jìn)行()
A.距離測(cè)定
B.折射角測(cè)定
C.分辨力測(cè)定
D.靈敏度校驗(yàn)
圖中,探頭B在進(jìn)行()
A.分辨力測(cè)定
B.聲速測(cè)定
C.距離測(cè)定
D.靈敏度測(cè)定
最新試題
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
單探頭法容易檢出()。
()是影響缺陷定量的因素。