A.檢驗(yàn)儀器和探頭的組合性能
B.確定靈敏度
C.缺陷定位
D.缺陷定量
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A.B掃描
B.C掃描
C.A掃描
D.以上都是
A.探頭的發(fā)射頻率
B.重復(fù)頻率
C.聲波在工件的往返頻率
D.工件的固有振動(dòng)頻率
A.24dB
B.6dB
C.40dB
D.100dB
A.靈敏度
B.水平線性
C.分辨力
D.垂直線性
A.發(fā)射超聲脈沖
B.把發(fā)射脈沖放大
C.發(fā)射電脈沖
D.產(chǎn)生方波
最新試題
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。