A.探傷時(shí)，在無(wú)缺陷部位必須保證底波出現(xiàn)，并達(dá)到一定高度
B.無(wú)底波出現(xiàn)，但缺陷波也末見(jiàn)到，則可斷定鋼板合格
C.底波衰減嚴(yán)重，雖無(wú)缺陷波，也不能當(dāng)成成品
D.只有缺陷波而無(wú)底波，說(shuō)明缺陷面積大于聲束截面
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A.必須保證可以順利進(jìn)行探測(cè)
B.清除銹斑和污物
C.表面應(yīng)達(dá)到軋制工藝所達(dá)到的平整度
D.上述條件都應(yīng)具備
A.缺陷越大，AVG曲線(xiàn)越適用
B.越接近探頭的區(qū)域，AVG曲線(xiàn)越準(zhǔn)確
C.從AVG曲線(xiàn)上確定的缺陷當(dāng)量與實(shí)際缺陷完全一致
D.在AVG曲線(xiàn)上，由于探頭附近的種種干擾，限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認(rèn)或評(píng)定， 因而存在最小可測(cè)距離的限制
A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同
B.缺陷的方向有隨機(jī)性
C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同
D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來(lái)
B.回波高度飽和
C.螢光屏滿(mǎn)高度的50%~80%
D.以上全都可以
A.取界面波與第一次底波間的聲程。
B.最后兩次底波間的聲程。
C.取底面回波次數(shù)愈多，測(cè)定結(jié)果的精度愈高。
D.取第三次與第四次底波間的聲程。
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。