A.當(dāng)超聲波的波長遠(yuǎn)大于金屬晶粒大小時(shí)
B.當(dāng)超聲波的波長等于或小于金屬晶粒大小時(shí)
C.當(dāng)超聲波的頻率過低或晶粒過小時(shí)
D.當(dāng)螢光屏上不出現(xiàn)草從回波時(shí)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
當(dāng)超聲波斜入射至界面時(shí)，發(fā)生反射與折射，并發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，其關(guān)系遵守斯涅耳定律：
此定律適用范圍的正確說法是（）
A.只適用于入射波是橫波的情況
B.只適用于入射波是縱波的情況
C.只適用于折射波是橫波的情況
D.適用于縱波與橫波的的折射與反射情況
A.提高探傷靈敏度及分辨力
B.增加穿透能力
C.與探傷儀匹配減小噪聲
D.提高抗干擾能力
A.提高靈敏度
B.減小育區(qū)，提高分辨力
C.增加探頭重量
D.以上都是
A.防止探頭磨損
B.消除水晶和金屬面之間的空氣
C.便于探頭移動(dòng)
D.以上全是
A.40
B.4
C.10
D.100
最新試題
儀器水平線性影響（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。