A.根據(jù)工件的材質(zhì)，形狀，尺寸以及工件的質(zhì)量。
B.靈敏度越高越好。
C.靈敏度越低越好。
D.選擇頻率高的探頭。
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A.聲束與缺陷平行
B.聲束與缺陷垂直
C.聲波從缺陷邊緣穿過(guò)
D.以上都可以
A.應(yīng)選擇易于變形，并能緊密地填充在空隙間的液體或粘稠介質(zhì)。
B.聲阻抗（Z）應(yīng)盡量大，以利聲能盡量多的入射工作內(nèi)。
C.對(duì)工件應(yīng)無(wú)腐蝕作用，對(duì)人體無(wú)害，價(jià)格低廉，來(lái)源方便。
D.以上全是
A.超聲波頻率愈高，穿透能力愈強(qiáng)。
B.超聲波頻率愈高，波長(zhǎng)短，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng)。
C.超聲波頻率愈高，分辨力愈好。
D.超聲波頻率愈高，方向性愈好
A.散射
B.吸收
C.探頭發(fā)射能力逐漸減弱
D.耦合介質(zhì)變壞
A.一部分被界面反射
B.其余部分透過(guò)界面
C.傳播方向改變和發(fā)生波型轉(zhuǎn)換
D.上述現(xiàn)象都會(huì)發(fā)生
最新試題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。