單項(xiàng)選擇題探頭晶片的作用是（）
A.電能變成機(jī)械能
B.機(jī)械能變成電能
C.A與B二者兼有
D.以上全沒(méi)有
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1.單項(xiàng)選擇題聲阻抗的定義為（）
A.聲阻抗=波長(zhǎng)×密度
B.聲阻抗=頻率×密度
C.聲阻抗=聲速×密度
D.聲阻抗=波長(zhǎng)×頻率
2.單項(xiàng)選擇題在碳素鋼（聲阻抗Z1）的單面復(fù)有一層不銹鋼（聲阻抗Z2）,從碳素鋼一側(cè)用2MHz作垂直探傷。試問(wèn)界面上的聲壓反射率為（）
A.
B.
C.
D.
3.單項(xiàng)選擇題介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)方向和波的傳播方向平行時(shí)，此波稱(chēng)為（）
A.縱波
B.表面波
C.橫波
D.板波
4.單項(xiàng)選擇題介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)方向和波的傳播方向垂直時(shí)稱(chēng)為（）
A.縱波
B.表面波
C.橫波
D.板波
5.單項(xiàng)選擇題波在一秒鐘通過(guò)某一點(diǎn)的次數(shù)叫做（）
A.波的頻率
B.波的脈沖寬度
C.波的振幅
D.波長(zhǎng)
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
儀器水平線(xiàn)性影響（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題