A.不大于8小時(shí)
B.不大于6小時(shí)
C.不大于4小時(shí)
D.不大于2小時(shí)
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A.不小于14mm
B.不大于14mm
C.不大于25mm
D.不小于25mm
A.1MHz~2.5MHz
B.1MHz~5MHz
C.2.5MHz~5MHz
D.2.5MHz~10MHz
A.C12
B.C10
C.C8
D.以上A或B
A.C3
B.C5
C.C8
D.以上A或B
A.槽寬與槽深比的%數(shù)
B.槽深與槽寬比的%數(shù)
C.槽深與壁厚比的%數(shù)
D.槽寬與壁厚比的%數(shù)
最新試題
儀器水平線性影響()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。