A.入射角
B.第一臨界角
C.最大反射角
D.第二臨界角
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A.大于45°
B.小于45°
C.等于45°
D.以上都可能
A.密度之比
B.彈性模量之比
C.聲阻抗之比
D.聲速之比
A.輻射功率
B.透過(guò)率
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
A.2.36mm
B.1.3mm
C.2.6mm
D.1.26mm
A.縱波
B.橫波
C.板波
D.表面波
E.以上都是
最新試題
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。