A.多次底面反射
B.多次界面反射
C.波形轉(zhuǎn)換
D.入射聲能的損失
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A.0.5MHz
B.1.25MHz
C.2.5MHz
D.5MHz
A.缺陷大小
B.缺陷取向
C.缺陷類型
D.上述三種都包括
A.角度的相互關(guān)系
B.相速度
C.缺陷類型
D.上述三種都包括
A.硫酸鋰
B.鈦酸鋇
C.石英
D.酒石酸鈉
A.磁致伸縮原理
B.壓電原理
C.波形轉(zhuǎn)換原理
D.上述都不對(duì)
最新試題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。