二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

探頭的分辨力（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。

射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái)，最主要的是決定于（）

底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。