A.大直徑高頻率探頭
B.小直徑高頻探頭
C.大直徑低頻率探頭
D.以上A和B
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A.細晶組織;
B.耦合劑不清潔;
C.表面粗糙;
D.粗晶組織
A.提高對小缺陷的檢測能力
B.降低對缺陷的定位精度
C.減少對相鄰缺陷的分辨率
A.大
B.與擴散角無關(guān)
C.小
D.應(yīng)視頻率和介質(zhì)特性綜合決定,不能一概而論
A.用φ2mm平底孔
B.φ40,φ44,φ50三個同心圓弧面
C.R50和R100圓弧
D.窄槽處標(biāo)有85,91,100mm
A.小于45°
B.大于45°
C.45°
D.還需要其它數(shù)據(jù)才能確定
最新試題
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當(dāng)?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
當(dāng)探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。