A.細(xì)晶組織;
B.耦合劑不清潔;
C.表面粗糙;
D.粗晶組織
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A.提高對(duì)小缺陷的檢測(cè)能力
B.降低對(duì)缺陷的定位精度
C.減少對(duì)相鄰缺陷的分辨率
A.大
B.與擴(kuò)散角無關(guān)
C.小
D.應(yīng)視頻率和介質(zhì)特性綜合決定,不能一概而論
A.用φ2mm平底孔
B.φ40,φ44,φ50三個(gè)同心圓弧面
C.R50和R100圓弧
D.窄槽處標(biāo)有85,91,100mm
A.小于45°
B.大于45°
C.45°
D.還需要其它數(shù)據(jù)才能確定
A.1500Hz
B.20KHz
C.2500Hz
D.0.5MHz
最新試題
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場(chǎng)的作用下,在工件中形成超聲波波源。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
對(duì)于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí),若回波前沿沒有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會(huì)使缺陷定位誤差增加。